產品概述
時代TIME1130超聲波探傷儀能夠快速、無損傷、精確地進行工件內部多種缺陷如裂紋、焊縫、 氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測、定位及對缺陷的定量和定性，廣泛應用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結構、鐵路交通、汽車、機械等領域。
功能特點
最新開發的、采用國內業界領先的可調方波激勵技術，內置帶有可調節選項的高性能“方波脈沖發生器”
先進的電路設計，采用12bits 80MHz采樣片，配合5.7"TFT （640480）高分辨率彩色液晶顯示屏
支持動態錄像功能，可記錄4個動態記錄文件，每個文件可以以16幀/秒的速度記錄2分鐘實時波形
支持灰度B掃功能，可顯示截面灰度B掃描，一個屏幕顯示豐富信息量，可用于簡單TOFD應用
豐富的波形凍結功能，波形凍結功能包括峰值顯示、波形比較、波形包絡等功能，還具有定時釋放能力，大大方便用戶操作。
波峰記憶：實時檢索缺陷最高波，標定缺陷最大值
實用AVG：實用AVG曲線、自動換算缺陷φ值(X>3N，N為近場距離)
動態記錄：檢測實時動態記錄波形，存儲、回放
缺陷定位：實顯水平值P、深度值D、聲程值S
缺陷定量：實顯SL定量值（DAC曲線實時定量）
缺陷定性：通過包絡波形，人工經驗判斷
曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算
灰度B掃描：實時掃查，描述缺陷橫切面
技術參數
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測量單位 |
mm、inch、ms |
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掃描范圍 |
零界面入射～10000mm |
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聲速調節 |
600～16000m/s |
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探頭延遲 |
-1.000～750.000μs |
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顯示延遲 |
-20～3400μs |
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工作方式 |
單探頭、雙探頭、透射 |
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波形顯示方式 |
A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時顯示 |
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脈沖發生器 |
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脈沖形式 |
模擬方波 |
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發射電源 |
100～400V，10V步距可調 |
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發射脈寬 |
75ns、100～500ns，50ns步距可調 |
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探頭阻尼 |
50Ω、100Ω、200Ω、500Ω |
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發射重復頻率 |
10～1000Hz |
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接收器 |
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增益 |
0～110dB分0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0可調 |
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總帶寬 |
0.5～20 MHz |
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檢波方式 |
正半波、負半波、全波、射頻 |
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垂直線性誤差 |
±2% |
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放大器精度 |
±1dB |
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抑制 |
屏高的0～80% |
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采樣速率 |
單片80 12bits MHz |
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發射串擾抑制 |
≥80dB |
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動態范圍 |
≥40dB |
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瞬時分辨力 |
≥30dB |
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水平線性誤差 |
≤0.1% |
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靈敏度余量 |
≥62dB |
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測量 |
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測量閘門 |
2個獨立測量閘門 |
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檢測方式 |
邊沿、峰值 |
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閘門測量 |
回波的幅值、聲程、深度、投影等 |
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凍結 |
凍結方式有：全凍結、峰值、比較、包絡等方式 |
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AVG當量計算 |
根據缺陷回波和AVG曲線自動計算缺陷當量評估 |
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DAC缺陷定量 |
根據缺陷回波和DAC 曲線對缺陷進行評估 |
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閘門邏輯 |
關、測量、進波報警、失波報警 |
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閘門報警 |
關、即時、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持2s、鎖存 |
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報警蜂鳴 |
關、開 |
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數據管理，通信及打印 |
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數據存儲 |
50個探傷參數通道記錄 |
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1000幅波形圖 |
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（包括980幅A掃描波形和20幅B掃描波形） |
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4x2000幀的動態波形 |
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數據管理 |
實現對通道、波形、動態記錄的存儲、查看、回放操作 |
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上述均可存儲到本地或U盤 |
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通信 |
通過USB接口與PC機通信 |
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輸出接口 |
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USB OTG接口 |
USB2.0 Device 與PC機通訊接口 |
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USB2.0 Host 接U盤 |
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其它 |
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產品重量 |
約1.6kg |
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產品外型尺寸 |
300×180×58mm（不帶遮光罩） |
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工作溫度 |
-10～50℃ |
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存儲溫度 |
-20～60℃ |
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語言 |
英語、中文 |
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探頭連接 |
LEMO 或BNC |
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電池容量 |
聚合物電池2×3.7V 5000mAh |
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電池工作時間 |
不低于8小時 |
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充電時間 |
不超過8小時 |
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電源適配器 |
輸入100-240～50/60Hz |
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輸出9V DC/3 A～4A |
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