模塊性能：
可以同時實現樣品表面形貌掃描和材料相關熱學性能測試
1） 溫度；
2） 溫度梯度變化曲線；
3） 定性熱導率；
4） 相變溫度；
5） 定性熱容量；
模塊優勢：
1）高性價比，能實現熱學掃描及熱學性質測試的功能，價格僅為其為同類產品的一半；
2）精細測量，能達到20nm區域測溫；
3）耐高溫，針尖在700℃高溫下也不易變形；
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Appnano 熱掃描探針系統
詳細信息 hermal probe system熱掃描探針系統，聯用AFM顯微鏡，既能實現AFM探針常規輕敲和接觸掃描，獲得高清晰度的圖像，同時能夠實現樣品熱學性質的探測。尤其適用于高分子材料組分熱學性質評估。
模塊性能： 可以同時實現樣品表面形貌掃描和材料相關熱學性能測試 1） 溫度； 2） 溫度梯度變化曲線； 3） 定性熱導率； 4） 相變溫度； 5） 定性熱容量；
模塊優勢： 1）高性價比，能實現熱學掃描及熱學性質測試的功能，價格僅為其為同類產品的一半； 2）精細測量，能達到20nm區域測溫； 3）耐高溫，針尖在700℃高溫下也不易變形； |