純 度：光譜法分析測試雜質含量。
晶粒度：X—衍射（XRD）線寬化法平均晶粒的測定。
顆粒度：GB/T13221納米粉末粒度分布的測定 X射線小角度散射法；GB/T13390粉末比表面的測定—氮吸附法（BET）：透射電鏡（TEM）觀察。
比表面積：GB/T13390粉末比表面的測定—氮吸附法（BET）。
參數指標：
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品名 |
納米二氧化錫 |
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平均粒徑 |
20nm 50nm |
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純度 |
99.8% |
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比表面積 |
50m2/g 15m2/g |
主要用途：
①化工原料，ITO等半導體電子工業(yè)材料，
②陶瓷釉料的遮光劑、乳濁劑、著色劑，氣敏元件材料，
③導電陶瓷及電極材料，抗菌材料，低輻射玻璃，抗靜電材料，有機合成催化劑，錫鹽，織物媒染劑和增重劑，鋼和玻璃的磨光劑等。
④銀錫觸頭材料。銀氧化錫觸頭材料是近年發(fā)展迅速的新型環(huán)保電觸頭材料,是替代傳統銀氧化鎘觸頭的理想材料；
⑤塑料和建筑行業(yè)的抗靜電添加劑；
⑥用于平板和CRT(陰極射線管)顯示的透明導電材料；
⑦電工及電子元件；
⑧用于熔煉特種玻璃的氧化錫電極 ；
⑨用于光催化抗菌材料等。
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