該測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)塊狀、薄膜材料或者其他已封裝材料，可以測(cè)試：電壓-電流、電壓-磁場(chǎng)、電壓-溫度、電阻-磁場(chǎng)、電阻-溫度等關(guān)系曲線；以及.電壓-溫度-磁場(chǎng)關(guān)系（變溫霍爾效應(yīng)）關(guān)系曲線等等。

系統(tǒng)采用計(jì)算機(jī)專用測(cè)試軟件控制測(cè)試設(shè)備，改變各個(gè)測(cè)試條件：如測(cè)量電流，溫度上升速率，磁場(chǎng)大小，磁場(chǎng)方向等等。如果需要也可以轉(zhuǎn)成手動(dòng)控制，用面板旋鈕按鈕條件。測(cè)試參數(shù)包括霍爾電勢(shì)、樣品電壓、樣品電流、樣品溫度和磁場(chǎng)強(qiáng)度。

性能參數(shù)：

1.電勢(shì)測(cè)量范圍：0~±1.9999V

2.電勢(shì)增益范圍：1，10,100三檔，最高分辨率1uV

3.樣品電壓測(cè)量范圍：0~±1.2V

4.樣品電壓增益范圍：0.2，2,20三檔，最高分辨率5uV

5.勵(lì)磁電流調(diào)節(jié)范圍：0~2A（程控或手動(dòng)）

6.磁場(chǎng)范圍：0~±400mT

7.樣品電流：0~±1.9999mA（程控或手動(dòng)）

8.變溫范圍：77.4K~400K